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日期:2023-04-26瀏覽:946次
高溫測量鐵電參數測試儀本測試系統采用虛地模式測量電路,與傳統的Sawyer-Tower模式相比,此電路取消了外接電容,可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度,減少了對測試的影響環節,比較容易定標和,并且能實現較高的測量,它不僅能畫出鐵電薄膜的電滯回線,還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和化ps、剩余化Pr、矯頑場Ec、漏電流Ik等參數,以及對鐵電薄膜材料鐵電疲勞、鐵電保持的測試。能夠測量鐵電薄膜的鐵電。儀器采用一體化設計,實現測試結果全數字化,操作簡單方便。
高溫測量鐵電參數測試儀優點:
可測量壓電陶瓷居里溫度、靜態壓電常數
測量壓電材料介電-1KHZ下的介電常數及介質損耗測試
可測量壓電材料積分電荷法熱釋電系數測試
它可測量壓電陶瓷的因數及機電耦合系數
可選配不同的測試裝置進行不同環境下的壓電陶瓷參數測試
本儀器可配合高壓放大器實現壓電及鐵電材料的綜合測
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